新研究：懷孕5周時做抹片檢查就能發現胎兒缺陷
2016-11-03 08:13:22 聯合報 記者馮克芸
美聯社報導，一項新研究指出，比起現行的產前檢查，簡單的抹片檢查未來可望更早發現胎兒先天缺損。
底特律的韋恩州立大學研究人員2日說，他們可從婦女懷孕初期接受抹片檢查的檢體細胞中，找到足夠的胎兒DNA，檢驗是否有基因異常。
這項新研究的規模相當小，還需做更多研究才能進一步證實，但如果此法奏效，研究人員說，未來婦女可早在懷孕五周時，就以非侵入性的抹片檢查，確認更多基因異常狀況。